PhD: Oberflächenphysik und computergestützte Analytik zur Charakterisierung der Dünnschicht-Mikrostruktur (w/m/div.)

Über diese Stelle

Treiben Sie wegweisende Forschung an der Schnittstelle von Materialwissenschaft, Dünnschichttechnik und MEMS-Innovation voran. In dieser Promotionsstelle entwickeln Sie neue Materialkonzepte, erarbeiten fortschrittliche Charakterisierungsansätze und übertragen Simulationserkenntnisse in reale Halbleiteranwendungen. Mitwirkung an der Entwicklung neuartiger Materialien für die kommenden Generationen von MEMS-Bauelementen Einbringen von Expertise zu bestehenden Charakterisierungsmethoden sowie Untersuchung und Entwicklung neuer Methodiken zur Analyse neu entwickelter Dünnschichten Koordination computergestützter Simulationsarbeiten zur Vorhersage physikalisch-chemischer Eigenschaften metallischer und dielektrischer Schichten Untersuchung, wie flüchtige Elemente an der Oberfläche und im…

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